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Bettersize3000激光图像粒度粒形分析仪

简要描述:Bettersize3000Plus激光/图像粒度粒形分析仪是一种激光+图像二和一的粒度粒形分析系统。它的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统,成像系统为动态双路远心显微成像系统,可同步进行粒度和粒形分析,实现了一机两用。Bettersize3000Plus激光图像粒度粒形分析仪还具有折射率测量技术、自动测试技术、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗技术、颗粒图像快速识别技术、样品复配技术等,

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-09-06
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详细介绍

Bettersize3000激光粒度分析仪的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统,同时设一个大约15倍的成像系统用来查看粗颗粒(>50μm)图像和测量最大粒径(D100)。

双镜头斜入射光学系统是由大功率泵浦偏振激光器、进口.镜头组、石英样品池和全角度光电探测器阵列组成。由于采用了高性能的镜头和独.特的激光斜入射结构,在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收——这是百特原创的专.利技术。这种技术不仅达到了进口仪器的用多光束技术来扩大散射光角度的效果,还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差,使测试结果更准确,同时实现了对纳米、微米甚至毫米级样品的准确粒度测试。由于探测器数量多和结构独.特,该仪器具有超.分辨单峰、双峰和多峰样品的能力。同时,该仪器还具有样品折射率测量技术、自动对中技术、防干烧超声波分散技术、SOP技术、大功率短波长偏振光技术等,进一步保证了重复性、准确性和分辨力。

单路显微成像系统并联在激光散射系统中,可随时拍摄流动中的粗颗粒图像。更重要的是,这个显微成像系统能准确捕捉到样品中的最大颗粒,实现了D100的有效测量,弥补了激光粒度仪无法测试D100的缺憾,为锂电池等领域提供了准确测试D100的可靠手段。

Bettersize3000激光图像粒度粒形分析仪还具有折射率测量技术、自动测试技术、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗技术、颗粒图像快速识别技术、样品复配技术等,综合性能达到或超过进口仪器水平,特别适合大企业、高校、研究院所等实验室。

基本性能指标

测试范围0.01-3500μm
进样方式自动循环分散系统
重复性误差.≤0.5%(国标样D50偏差)
准确性误差.≤0.5%(国标样D50偏差)
测量原理米氏散射理论
测量方式自动测量(SOP),自动对中
最快测量时间≤10秒
激光光源偏振泵浦固体激光器(10mW/532nm)
光路系统斜入射双镜头光路系统
露点温度测量
折射率测量范围1.4-3.6
操作系统Win7/Win10
接口方式USB2.0或3.0
光电探测器96个
超声波功率50W
循环池容积600mL
循环流量3000-8000mL/分钟
产品复配A×α%+B×(1-α%)=C
电压AC220V、50/60Hz
体积与重量820×610×290mm,48kg


应用领域

  • 各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等。

  • 各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。

  • 其它粉体:河流泥沙、锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种乳液等。

突出特点

  • 斜入射双镜头技术:百特专.技术,采用激光斜入射技术,结合前向、侧向和后向散射光探测技术,达到全角度测量,扩大了测量范围,提升了细颗粒端的测量精度,提升了分辨率。

  • 样品折射率测试技术:对未知折射率的样品可以先测量折射率,包括实部和虚部,保证了粒度测试的准确性。

  • 自动循环分散与自动测试技术:防干烧超声波分散器、离心循环泵、自动进水系统、自动排水和溢水系统,适用于所有样品,保证了样品充分分散,保证了测试的准确性和重复性。

良好的重复性

良好的准确性




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