Zeta电位仪厂家供应的BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。

BT-Online2在线激光粒度监测与控制系统由测试主机、电脑、取样系统、回收系统、电路与气路控制系统、机柜等部分组成。系统可在电脑控制下自动取样、自动测试、自动回收、远程传输测试结果等。通过设定SOP流程系统可在无人值守状态下自动运行。它在数据异常时系统会自动报警提示，在研磨设备具有信息化控制终端时，本系统还可对研磨系统实施控制，实现粒度监测与控制同步，保证产品粒度稳定。

Bettersize3000Plus激光/图像粒度粒形分析仪是一种激光+图像二和一的粒度粒形分析系统。它的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统，成像系统为动态双路远心显微成像系统，可同步进行粒度和粒形分析，实现了一机两用。Bettersize3000Plus激光图像粒度粒形分析仪还具有折射率测量技术、自动测试技术、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗技术、颗粒图像快速识别技术、样品复配技术等，

Bettersize2600干湿二合一激光粒度分析仪是一种采用百特首.创的正反傅里叶结合光路系统的智能化激光粒度仪。正反傅里叶结合光学系统的最大特点是用单激光束实现了前向、侧向和后向散射光信号的全角度接收——这是百特原创的专.利技术。这种技术不仅达到了进口仪器的用多光束技术来扩大散射光角度的效果，还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差

Bettersize2000激光粒度仪是一种采用双镜头技术的一体化激光粒度仪。它的散射光发生与探测系统是由一个大功率光纤半导体激光器、样品池、两个高精度的进口透镜组和两组光电探测器阵列组成。这种光学系统能在单光束状态下使前向和后向散射光信号都能被同时有效接收，同时高精度透镜组保证了即使是很微弱的散射光信号都能有效地汇聚到探测器上，使仪器的量程、重复性、准确性和分辨力等主要指标都达到了国际同类仪器水

BeNano Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。