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BeNano 180 Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪

简要描述:BeNano 180 Zeta 纳米粒度及Zeta电位仪是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-11-23
  • 访  问  量: 788

详细介绍

BeNano 180 Zeta 纳米粒度及Zeta电位仪是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。

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基本性能指标

粒径测试粒径范围0.3nm-10μm
样品量3μL-1mL
检测角度173° & 12°
分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN
浓度上限40% w/v
Zeta电位测试技术相位分析光散射
检测角度12°
Zeta范围无实际限制
电泳迁移率范围>±20um.cm/v.s
电导率范围0-260mS/cm
最小样品量0.75mL-1.0mL
Zeta测试粒径范围2nm-110μm
分子量测试分子量范围342Da-2×107Da
趋势测量模式时间和温度
粘度测试粘度范围0.01cp-100cp
系统参数温控范围-10°C-110°C,精度±0.1°C
激光光源50mW高性能固体激光器,671nm
相关器最多4000通道,107动态线性
检测器APD,高性能雪崩光电二极管
光强控制0.0001%-100%,手动或自动
取决于样品和选件


检测参数

  • 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布

  • 颗粒体系的Zeta电位及其分布

  • 分子量

  • 分布系数PD.I

  • 扩散系数D

  • 流体力学直径DH

  • 颗粒间相互作用力因子kD

  • 溶液粘度

检测技术

  • 动态光散射

  • 静态光散射

  • 电泳光散射

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