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干法激光粒度仪是行业中的榜样
点击次数:1459 发布时间:2014-08-27
 
      干法激光粒度仪当光线通过不均匀介质时,会发生偏离其直线传播方向的散射现象,它是由吸收、反射、折射、透射和衍射的共同作用引起的。散射光形式中包含有散射体大小、形状、结构以及成分、组成和浓度等信息。因此,利用干法激光粒度仪光散射技术可以测量颗粒群的浓度分布与折射率大小,还可以测量颗粒群的尺寸分布。
  选购干法激光粒度仪的*要素是测试结果的准确性和重复性:现在市面上的干法激光粒度仪它们的性能和质量参差不齐。先不不谈做工好坏,影响干法激光粒度仪性能的主要因素有:仪器的硬件设计是否合理;仪器的软件算法是否准确;仪器的理论基础是否先进。不过,想要真正了解某一台干法激光粒度仪的测试准确性和重复性,zui直接的方法还是用样品进行测试比较,所以说我们建议:在选购干法激光粒度仪之前,首先要对样品进行实际测试。
  根据被测试颗粒的性质特点选购相应的干法激光粒度仪:干法激光粒度仪一般来说根据分散介质的不同可分为干法和湿法两种。干法测量的颗粒种类较多,但是测试量程不如湿法大,而且价格也要昂贵的多,所以首先弄清楚颗粒的性质再选择相应的仪器种类是完全必要的。
  综合考虑性价比,选择zui合适的干法激光粒度仪:从整体水平来说,国外的干法激光粒度仪性能优于国内,但价格也要高出数倍,同时,要说明的是:国内测试水平的不足其实于在纳米级颗粒,在0.1微米以上的颗粒测试中,国内的产品比国外的产品毫不狲色。因此,如果您需要测试的颗粒级数在0.1微米以上,选择性能优越的国产品不失为明智之举。
  干法激光粒度仪由激光器(一般为He-Ne激光器或半导体激光器)发出的光束。经空间滤波器和扩束透镜后,得到了一个平行单色光束,该光束照射到由分散系统传输过来的颗粒样品后发生散射现象。研究表明,干法激光粒度仪散射光的角度和颗粒直径成反比,散射光强随角度的增加呈对数衰减。这些散射光经傅立叶透镜后成像在排列有多环光电探测器的焦平面上。干法激光粒度仪多环探测器上的中央探测器用来测定样品的体积浓度,外围探测器用来接收散射光的能量并转换成电信号,而散射光的能量分布与颗粒粒度分布直接相关。干法激光粒度仪通过接收和测量散射光的能量分布就可以反演得出颗粒的粒度分布特征。
  干法激光粒度仪主要依据Fraunhofer 衍射和Mie散射两种光学理论。下面就干法激光粒度仪散射理论的发展历史作简要阐述:
  散射理论的研究开始于上一世纪的70年代。1871年,瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了的瑞利散射定律,并用干法激光粒度仪电子论的观点解释了光散射的本质[ 1 ]。瑞利散射定律的适用条件是散射体的尺寸要比光波波长小。1908年,米氏(G. Mie)通过电磁波的麦克斯韦方程,解出了一个关于干法激光粒度仪光散射的严格数学解,得出了任意直径、任意成分的均匀粒子的散射规律,这就是的米氏理论[ 2 ]。1957年, H. C. Van de Hulst 出版了关于干法激光粒度仪现象的专著,总结了粒子散射的普遍规律,受到科技界人士的广泛注意,这本专著被认为是光散射理论领域的经典文献 [3]。1969年,M . Kerker 系统论述了光及电磁波散射的一般规律,为干法激光粒度仪散射理论的进一步发展做出了贡献[ 4 ]。1983年,C. F. Bo hren ,O. R. Huff man综合前人的成果,又发表了关于干法激光粒度仪吸收的一般规律,更全面地解释了光的各种散射现象[ 5 ]。至此,散射理论的体系建立起来了。
  1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理论在时( d为散射粒子的直径,λ为光波波长)的近似式 ——夫琅和费(Franhofer)衍射理论发展了干法激光粒度仪[ 6 ],开辟了散射理论在计量测试中的又一新领域。由于光散射法适用范围宽,测量时不受颗粒光学特性及电学特性参数的影响,因此在随后的三十年时间内已成为粒度计量中zui为重要的方式之一。
  但是不管再怎么出色的仪器,也离不开售后服务,因为干法激光粒度仪是高科技精密仪器,为保证其测试精度,定期的维护必不可少,在没有良好售后服务的厂家购买产品,使用时毫无保障,仪器一旦出现故障,厂家逃避责任、推委搪塞。仪器故障无法及时排除,影响正常使用,给您造成损失,所以我们提醒您,请到有实力、有信誉的厂家购买干法激光粒度仪,以避免后顾之忧,所以的售后服务是干法激光粒度仪正常使用的保障。
 
 
 

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