BeNano 180 Zeta Max沉降法检测多粒径组分体系

在这篇应用报告中，使用丹东百特仪器公司的BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位分析仪检测了多种粒径混合的样品的粒度信息。

原理

BeNano 180 Zeta Max纳米粒度及Zeta电位分析仪基于透射光路检测样品的透射光强度，然后基于斯托克斯方程

计算体系的粒径和粒径分布信息，测试需要对应温度下分散介质的折射率、密度和粘度，对应温度下颗粒物的折射率和密度，以及样品体积。

实验

实验采用已知粒径的多个PMMA球进行，PMMA球粒径分别为5.4μm、9.5μm、14.9μm和18.5μm，将样品混合配置成混合液，混合的具体信息如下：

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将样品按一定比例混合，放入光程为10mm的方形玻璃样品池中进行测试。测试前恒温120秒，使样品达到平衡温度，然后用移液枪将样品混合均匀，开始收集信号。

结果分析和结论

通过图1-4的沉降信号和对应的粒径分布曲线可以看出，若两个粒径的样品混合，其沉降原始信号中有两个上升平台；若三个粒径的样品混合，其沉降原始信号中有三个上升平台信号。

从粒径分布图中可看出，均能将混合样品的粒径峰分辨出来，其峰值粒径列于下表：

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通过表中所列的峰值粒径可以看出，峰值粒径与标称粒径一致性较好。由样品的混合粒径比例可以得到，在粒径1:1.5倍条件下，BeNano沉降法可以将不同的组分进行明显区分。