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技术文章
百特新款激光粒度仪兼具多项优良技术
点击次数:519 发布时间:2019-04-15
Bettersize3000激光粒度仪是百特集多年的研发成果和技术积累研制的一款高性能激光粒度粒形分析系统,具有粒度测量范围宽、分辨力和灵敏度高、准确性和重复性好、操作简便等突出特点,同时兼具粒形分析功能。
 
1、双镜头斜入射光学系统提高了粒度测试的精度
 
Bettersize3000采用双镜头斜入射的精密光学系统,探测角度达0.02-165°,测量范围达到0.01-3500μm,无论是毫米级颗粒,微米级颗粒,还是纳米级颗粒,系统都能地捕捉,从原理上充分保障了测量精度和更高的性能。目前国外激光粒度仪普遍采用双光源光学系统来增大探测角度,提升测试范围,包括同轴双光束系统和异轴双光束系统。
 
与双光束系统相比,百特双镜头斜入射光学系统有明显优势,一是可靠性高。因为双镜头增加的是一个无源器件——镜头,双光束增加的是一个有源器件——激光器,无源器件的寿命和可靠性远远高于有源器件。二是基准。百特光学系统是单一偏振光光源,各个探测器上接收的散射光强基准都是源于这个光源,具有的基准。而双光束系统是两个光源,各个探测器上接受到的散射光强基准有两个,会造成测量误差。第三,信号连续。双镜头系统在所有探测器上的信号是连续采集、没有间断的。而双光源系统,两个光源轮流工作,每个光源对应一组散射信号,反演计算时需要将这两组信号进行拟合,造成数据的不连续、不完整,对测量结果有很大影响。第四,样品折射率测量功能。样品的折射率是激光粒度分析的重要参数,并且它与波长有关。Bettersize3000能得到任何样品的折射率,从而保证对未知折射率(包括实部和虚部)的样品能准确测量其粒度分布。而多光束系统采用不同波长的光源,照理应有多个的折射率,而实际上是用一个折射率,将直接影响细颗粒的粒度测试准确性。
 
2、Bettersize3000动态粒形分析-粒度和粒形二合一
除具有超强的粒度测试性能外,Bettersize3000Plus还有动态粒形分析功能,成为粒度和粒形二合一分析系统。动态粒形分析系统包括显微镜、高速摄像机和高速图像处理软件三部分组成,分析的粒形参数包括颗粒的圆形度、长径比、径厚比、大粒径等。同时,就粒度测试而言,可视化的颗粒图像成为激光粒度仪上的一个明亮的“眼睛”,与激光法粒度数据相互认证,使粒度测试更具有真实性。
 
Bettersize3000是百特粒度粒形分析技术达到的新高度,它所集成的双镜头技术、折射率测量技术、激光散射/显微图像二合一技术、一键操作技术等粒度粒形分析技术,代表着粒度粒形分析技术发展的新成果。
 

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