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百特新一代粒度粒形综合分析系统集多项技术于一体

发表时间:2019-04-08      点击次数:671
Bettersize3000plus激光图像粒度粒形分析仪是激光散射+显微图像二合一的粒度粒形分析仪,采用斜入射双镜头技术,测量下限达0.01μm,测量上限达到3500μm,提高了粗颗粒端的测量精度。同时对激光法数据和图像法数据进行融合,得出更加准确的粒度测试结果,得出粒形分析信息(圆形度、长径比等)。

新一代粒度粒形分析系统Bettersize3000plus集激光散射技术、显微图像技术和折射率测量技术于一体,可测“粒度+粒形+折射率”,是一款的颗粒综合分析系统,粒度测试范围达0.01-3500μm,可同时分析球形度、粗糙度、锐度等粒形信息,粒度粒形同时测试,这正是磨料粒度粒形分析所需。相信这一新技术新仪器必定会提升磨料磨具材料粒度粒形分析精度,成为磨料行业节能减排、提质增效的利器。

该仪器还采用了样品折射率测量技术,对未知折射率的新材料也能得到的粒度测试结果。本仪器采进口半导体泵浦激光器,寿命大于25000小时;采用进口的高精度透镜组,保证了微弱的、各角度的散射光信号无一漏网;采用进口的高速CCD与高像远心镜头,成像清晰无拖尾现象;采用高速颗粒识别技术,每分钟可分析几万个颗粒数目。总之,该仪器是集激光散射、显微成像于一体的新一代粒度测试仪器。

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