使用激光粒度仪进行粒度测试，是目前应用zui广泛的一种粒度测试方法。早期的激光粒度仪用弗朗和费理论，这种理论不需要样品折射率，但对小于5微米的样品误差较大。为了使激光粒度仪测量细样品的精度更高,当今大部分粒度仪都采用Mie散射理论，这是一种描述颗粒对激光散射规律的理论，但Mie散射理论进行计算时需要用到样品的折射率和吸收率，如果折射率选择的不对就会影响粒度结果的准确性。下面介绍几个简单获取样品折射率和吸收率的方法。1、软件中查找。正规激光粒度仪在出厂时，软件中都会提供折射率存...

半导体激光器又称激光二极管（LaserDiode，LD），是二十世纪八十年代半导体物理发展的成果之一。半导体激光器的优点是体积小、重量轻、可靠性好、使用寿命长、功耗低。此外，半导体激光器采用低电压恒流供电方式，电源故障率低、使用安全，维修成本低。目前，半导体激光器的使用数量居所有激光器，某些重要的应用领域，过去常用的其他激光器，已逐渐被半导体激光器所取代。此外，半导体激光器品种繁多，既有波长较长的红外、红光，也有波长较短的绿光、蓝光，可以利用这些优势拓展激光粒度仪的测量范围，...

米氏散射理论是通过麦克斯韦电磁理论严格推导出的、用来描述表面光滑的球体对光的散射规律的解析解。它考虑了散射体（颗粒）的光学特性（折射率和吸收系数）以及介质的光学特性。由于米氏理论考虑了样品的折射率、吸收率、反射率，考虑了介质的折射率等因素，因此它对具有不同光学特性的样品都能得到解析解，由此得到的粒度测试结果更准确，并且适用于从超细的亚微米级颗粒到较粗的毫米级颗粒，是现代激光粒度仪普遍采用的理论基础。虽然米氏散射理论运算起来更复杂，但在计算机技术如此发达的今天，这已经不是什么缺...

从使用角度来讲，可以通过观察背景状态来快速判断激光粒度仪是否正常。如果背景值大于4或直方图形状凸凹不平说明对中不良，背景值小于0.3说明激光器亮度下降；背景直方图长度超过20个通道，说明样品池脏换或结雾，需要清洗或处理；在背景坐标的右边有背景信号，需要检查样品池和介质是否干净。不同品牌的激光粒度仪，背景的图形形式可能有所不同，但无论如何，背景都是在激光穿过充满纯净介质的样品池后各个角度探测器上接受到的光信号。它能直接反映仪器的状态是否正常，因此通过观察背景状态，就可以快速判断...

激光粒度仪良好的背景状态必须同时具备以下五点：数值较低（1-3）、长度短（占20个通道以内）、形状斜（从左逐渐递减）、位置左（位于坐标zui左侧）和稳定。影响激光粒度仪的背景状态的因素有以下原因：一是对中不良，二是样品池粘附颗粒或结雾，三是介质不干净，四是激光器老化。此外像样品池中没有介质、环境空气中灰尘太多、富氏透镜脏等也可能造成背景状态异常。如果出现背景异常，首先要检查样品池和透镜是否干净，然后检查样品池中是否有介质和介质是否有杂质，再检查对中状态是否良好。如果这些都正常...